Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos (eBook, ePUB) - González Mancera, Guillermina; Noguez Amaya, María Eugenia
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  • Format: ePub

El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

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Produktbeschreibung
El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

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