M. T. Sebastian, P. Krishna

Random Non-Random Periodic Fau (eBook, ePUB)

• Format: ePub

Produktbeschreibung

This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction and more.

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Produktdetails

• Verlag: Taylor & Francis
• Seitenzahl: 400
• Erscheinungstermin: 5. Juli 2017
• Englisch
• ISBN-13: 9781351552363
• Artikelnr.: 49043119

Autorenporträt

Sebastian, M. T.; Krishna, P.