Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, B, BG, CY, CZ, D, DK, EW, E, FIN, F, GR, HR, H, IRL, I, LT, L, LR, M, NL, PL, P, R, S, SLO, SK ausgeliefert werden.
Herstellerkennzeichnung
Die Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar.
Autorenporträt
Hans Mommsen, geboren 1930, war 1961 bis 1963 Referent am Institut für Zeitgeschichte in München und ab 1968 Professor für Neuere Geschichte in Bochum. Nach seiner Emeritierung 1996 hielt er sich u.a. als Gastwissenschaftler am United States Holocaust Memorial Museum in Washington auf. Er war Mitglied im wissenschaftlichen Beirat der "Ausstellung Verbrechen der Wehrmacht. Dimensionen des Vernichtungskriegs 1941-1944". Hans Mommsen verstarb im November 2015.
Inhaltsangabe
Zusammenfassung.- I. Einleitung.- II. Rutherford-Rückstreuung.- 1. Theoretische Grundlagen.- 2. Erklärung der Rückstreuspektren.- 3. Lineare Näherung für dünne Targets.- 4. Höhe des Energiespektrums.- III. Experimenteller Aufbau.- 1. Allgemeine Bedingungen, Strahl und Streukammer.- 2. Meßelektronik.- 3. Elektrostatischer Analysator (ESA).- IV. Spektrensimulation per Rechenmaschine.- 1. Programmbeschreibung.- 2. Schematische Gliederung des Programms.- 3. Berücksichtigung der Detektorauflösung.- 4. Simulation inhomogener Targets.- V. Anwendungsbeispiele und Diskussion einiger Spektren.- 1. Dickenbestimmung dünner Folien.- 2. Dickenbestimmung von Oberflächenverunreinigungen.- 3. Analyse und Tiefenprofile dünner Schichten.- 4. Quantitative Analyse homogener Gemische.- VI. Schlußbetrachtung.- Bilderverzeichnis.
Zusammenfassung.- I. Einleitung.- II. Rutherford-Rückstreuung.- 1. Theoretische Grundlagen.- 2. Erklärung der Rückstreuspektren.- 3. Lineare Näherung für dünne Targets.- 4. Höhe des Energiespektrums.- III. Experimenteller Aufbau.- 1. Allgemeine Bedingungen, Strahl und Streukammer.- 2. Meßelektronik.- 3. Elektrostatischer Analysator (ESA).- IV. Spektrensimulation per Rechenmaschine.- 1. Programmbeschreibung.- 2. Schematische Gliederung des Programms.- 3. Berücksichtigung der Detektorauflösung.- 4. Simulation inhomogener Targets.- V. Anwendungsbeispiele und Diskussion einiger Spektren.- 1. Dickenbestimmung dünner Folien.- 2. Dickenbestimmung von Oberflächenverunreinigungen.- 3. Analyse und Tiefenprofile dünner Schichten.- 4. Quantitative Analyse homogener Gemische.- VI. Schlußbetrachtung.- Bilderverzeichnis.
Es gelten unsere Allgemeinen Geschäftsbedingungen: www.buecher.de/agb
Impressum
www.buecher.de ist ein Internetauftritt der buecher.de internetstores GmbH
Geschäftsführung: Monica Sawhney | Roland Kölbl | Günter Hilger
Sitz der Gesellschaft: Batheyer Straße 115 - 117, 58099 Hagen
Postanschrift: Bürgermeister-Wegele-Str. 12, 86167 Augsburg
Amtsgericht Hagen HRB 13257
Steuernummer: 321/5800/1497
USt-IdNr: DE450055826
