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Broschiertes Buch
The New Generation High Speed Switching Non-Volatile Memory Device
Aufl.
24. April 2012
LAP Lambert Academic Publishing
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Broschiertes Buch
Defects, Fault Models and Test Patterns
Softcover reprint of the original 1st ed. 2004
9. Dezember 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-5430-5
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Broschiertes Buch
Fundamentals and Applications
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004
3. Dezember 2010
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978-3-642-07384-7
Gebundenes Buch
Defects, Fault Models and Test Patterns
2004
31. März 2004
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978-1-4020-7752-4
Broschiertes Buch
11. Oktober 2023
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Atomic scale engineering of HfO2-based dielectrics for future DRAM applications
Aufl.
23. Dezember 2011
Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften
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Semiconductor memory
18. Februar 2011
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eBook, PDF
1. Juni 2022
Springer International Publishing
Gebundenes Buch
1996.
4. März 2011
Springer, Berlin
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