Suchergebnisse für ""Cher Ming Tan""

Graphene and VLSI Interconnects
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects
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Gebundenes Buch
25. November 2021
Jenny Stanford Publishing
Auch erhältlich als
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Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging (eBook, ePUB)
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Cher Ming Tan
Preetpal Singh
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging (eBook, ePUB)
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24. September 2022
Elsevier Science & Techn.
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, ePUB)
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, ePUB)
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24. November 2021
Taylor & Francis eBooks
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, PDF)
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, PDF)
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24. November 2021
Taylor & Francis eBooks
ELECTROMIGRATION IN ULSI INTERCONNECTI..
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Cher Ming Tan
ELECTROMIGRATION IN ULSI INTERCONNECTI..
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Gebundenes Buch
25. Juni 2010
World Scientific
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Broschiertes Buch
2011
21. April 2013
Springer / Springer London / Springer, Berlin
978-1-4471-2641-6
Auch erhältlich als
Gebundenes Buch75,99 €
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
38,99 €
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Cher Ming Tan
Feifei He
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
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Broschiertes Buch
2013
4. Mai 2013
Springer / Springer Nature Singapore / Springer, Berlin
86164922,978-981-4451-20-8
Auch erhältlich als
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
75,99 €
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Gebundenes Buch
2011
7. März 2011
Springer / Springer London / Springer, Berlin
12234875,978-0-85729-309-1
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (eBook, PDF)
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Cher Ming Tan
Feifei He
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (eBook, PDF)
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16. März 2013
Springer Nature Singapore
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (eBook, PDF)
73,95 €
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
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Yuejin Hou
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (eBook, PDF)
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28. März 2011
Springer London


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