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El método OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologías existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificación de un marco multinivel de 160 características que deben ser consideradas para evaluar ontologías. Se proporciona el modelo conceptual de una ontología en el dominio de las ontologías, Reference Ontology, que está basada en el marco multinivel de características. Se ha elaborado un método basado en el método de jerarquías analíticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologías candidatas que pueden ser…mehr

Produktbeschreibung
El método OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologías existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificación de un marco multinivel de 160 características que deben ser consideradas para evaluar ontologías. Se proporciona el modelo conceptual de una ontología en el dominio de las ontologías, Reference Ontology, que está basada en el marco multinivel de características. Se ha elaborado un método basado en el método de jerarquías analíticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologías candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El método ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, qué ontologías son las más adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe también el soporte tecnológico que asiste al método.
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Autorenporträt
Adolfo Lozano-Tello es profesor del Departamento de Lenguajes y Sistemas Informáticos de la Universidad de Extremadura y doctor en Ingeniería Informática desde 2002. Sus líneas de investigación son la ingeniería ontológica, la web semántica y linked data. Es director de la Cátedra Telefónica de la UEX y director del Centro Inter de Ref Linux.