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6. Juli 2010
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Gebundenes Buch
Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy
1. Dezember 2007
Elsevier Science / Elsevier Science & Technology
B978-0-444-52777-6.X5001-3
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Gebundenes Buch
Bildgebung und Messung durch Rasterkraftmikroskopie
1. Auflage
Januar 2010
Wiley-VCH
Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON