Rassmotreny metody diagnostirovaniya tehnicheskih ustrojstv, modeliruemyh jelektricheskimi cepyami na osnove logicheskogo analiza topologii ob#ekta. Privedena metodika poiska defektov v razvetvlennyh jelektricheskih cepyah vysokoj razmernosti. Dana ocenka pogreshnostej na osnove analiza obuslovlennosti topologicheskih matric. Rassmotrena model' i metodika diagnostirovaniya jelektricheskih shem metodom izovar, a takzhe testirovanie kombinacionnyh shem na osnove postroeniya matricanta diagnostirovaniya. Mozhet byt' polezna specialistam, rabotajushhim v oblasti tehnicheskoj diagnostiki.