Jexperimental'nye metody opredeleniq harakteristik materialow - chast' 1 - Solanki, D-r Vanaradzhsinh;Dasadiq, D-r Abhaj;Mishra, D-r Pramita
13,99 €
inkl. MwSt.

Versandfertig in 6-10 Tagen
  • Broschiertes Buch

Jeta kniga poswqschena razlichnym instrumentam dlq opredeleniq harakteristik materialow s uporom na morfologicheskie/topologicheskie i strukturnye swojstwa materialow. V glawe, poswqschennoj morfologicheskim instrumentam, w osnownom rassmatriwaütsq proswechiwaüschij älektronnyj mikroskop (PJeM), skaniruüschij älektronnyj mikroskop (SJeM) i atomno-silowoj mikroskop (ASM), w to wremq kak glawa, poswqschennaq strukturnym harakteristikam, wklüchaet podrobnoe opisanie rentgenowskogo difraktometra (RFD), difrakcii nejtronow, mikroskopa kombinacionnogo rasseqniq, difrakcii älektronow w wydelennoj…mehr

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
Jeta kniga poswqschena razlichnym instrumentam dlq opredeleniq harakteristik materialow s uporom na morfologicheskie/topologicheskie i strukturnye swojstwa materialow. V glawe, poswqschennoj morfologicheskim instrumentam, w osnownom rassmatriwaütsq proswechiwaüschij älektronnyj mikroskop (PJeM), skaniruüschij älektronnyj mikroskop (SJeM) i atomno-silowoj mikroskop (ASM), w to wremq kak glawa, poswqschennaq strukturnym harakteristikam, wklüchaet podrobnoe opisanie rentgenowskogo difraktometra (RFD), difrakcii nejtronow, mikroskopa kombinacionnogo rasseqniq, difrakcii älektronow w wydelennoj oblasti (SAED). Zdes' my postaralis' ob#qsnit' kazhduü detal' äxperimental'nyh metodow, chto budet ochen' polezno dlq nowyh studentow.
Autorenporträt
D-r Vanaradzh Solanki poluchil stepen' magistra fiziki (2008) w Uniwersitete S. P., VVNagar, i stepen' doktora filosofii w Institute fiziki, Bhubaneswar, Indiq. On takzhe rabotal w Centre issledowaniq materialow, Indijskij institut nauki, Bangalor, w kachestwe postdoka. V nastoqschee wremq d-r Solanki rabotaet nauchnym sotrudnikom w KRADLE, CHARUSAT, Changa.