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Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics
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Marc Aoulaiche
Guido Groeseneken
Herman Maes
Bias-Temperature-Instabilities in MOSFETs with high-k dielectrics
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Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs
22. Juni 2010
LAP Lambert Academic Publishing

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