Broschiertes Buch
Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs
22. Juni 2010
LAP Lambert Academic Publishing
Buch
2009
Haarlem : Koninklijke Joh. Enschedé/Gottmer Uitgevers Groep
Ähnliche Artikel
Gebundenes Buch
1st Edition.
22. März 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
12438952,978-1-4419-1546-7
Broschiertes Buch
20. Juli 2011
LAP Lambert Academic Publishing
24,99 €
Versandfertig in 1-2 Wochen
Broschiertes Buch
30. Oktober 2014
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
30. Januar 2013
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
Optimally Designed and Optimally Biased Nanoscale-SOI MOSFETS for Low Power Wireles Systems
18. November 2014
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
11. Juli 2023
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
Short Channel Mosfets: Conventional and Dual Material Gate (DMG)
Aufl.
7. Oktober 2011
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
Process Integration and Performance Evaluation for Sub-22nm Node Digital CMOS Logic Technology
3. Oktober 2011
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
at and near the Pinch-off Region
Aufl.
4. Januar 2012
LAP Lambert Academic Publishing
Broschiertes Buch
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Softcover reprint of the original 1st ed. 2016
23. Oktober 2016
Springer / Springer India / Springer, Berlin
978-81-322-3424-1
Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON
