Suchergebnisse für ""José Pineda de Gyvez""

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1993
23. Februar 2014
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6383-5
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Broschiertes Buch
Design, Test and Calibration
Softcover reprint of the original 1st ed. 2011
23. August 2016
Springer / Springer Netherlands
978-94-024-0530-9
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (eBook, PDF)
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José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (eBook, PDF)
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eBook, PDF
27. November 2013
Springer New York
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Gebundenes Buch
Design, Test and Calibration
5. November 2010
Springer / Springer Netherlands
80017499,978-90-481-9724-8
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Broschiertes Buch
2nd ed.
10. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-4285-2
Auch erhältlich als
Gebundenes Buch149,99 €
eBook, PDF161,95 €
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Gebundenes Buch
2nd ed.
21. Juni 2007
Springer / Springer US / Springer, Berlin
11378808,978-0-387-46546-3
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters (eBook, PDF)
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters (eBook, PDF)
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eBook, PDF
29. Oktober 2010
Springer Netherlands
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
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4. Juni 2007
Springer US
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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Gebundenes Buch
1993.
31. Dezember 1992
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9306-1


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