Análisis teórico - experimental de un sistema de franjas radiales - Reina Gonzalez, Nidia Esther;Meneses, Jaime Enrique
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Es importante determinar con precisión la posición espacial y angular de un objeto en el espacio en aplicaciones de ingeniería. Se adhieren al objeto marcadores espaciales, como esferas reflectoras o fuentes luminosas puntuales, que son visualizadas por una combinación estéreo de cámaras digitales y determinar la posición 3D del objeto, en un sistema coordenado fijo. Otros emplean señales infrarrojas o ultrasónicas que son reflejadas por la superficie del objeto, y recibidas por múltiples captores, ubicados en un volumen de trabajo, con el fin de realizar procedimientos clásicos de…mehr

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Produktbeschreibung
Es importante determinar con precisión la posición espacial y angular de un objeto en el espacio en aplicaciones de ingeniería. Se adhieren al objeto marcadores espaciales, como esferas reflectoras o fuentes luminosas puntuales, que son visualizadas por una combinación estéreo de cámaras digitales y determinar la posición 3D del objeto, en un sistema coordenado fijo. Otros emplean señales infrarrojas o ultrasónicas que son reflejadas por la superficie del objeto, y recibidas por múltiples captores, ubicados en un volumen de trabajo, con el fin de realizar procedimientos clásicos de triangulación para calcular las coordenadas espaciales. Técnicas comerciales imponen condiciones no aplicables en algunos ambientes industriales o médicos. Se propone explorar de manera teórica y verificar en condiciones de laboratorio, el uso de la información de fase codificada en un una mira radial de franjas , para determinar los desplazamientos y variaciones angulares que ha sufrido un cuerpo. Se propone determinar la distribución de fase existente en una mira radial de franjas y determinar con precisión subpixel la posición del centro y algunas direcciones radiales de la mira.
Autorenporträt
Nidia Esther Reina Gonzalez. Física, Universidad Industrial de Santander (Colombia). Magíster en Ciencias, mención Física, Universidad de Chile. Estudiante de Doctorado en Ciencias Físicas (UTFSM, Valparaíso, Chile). Metrología Óptica: análisis de franjas radiales Nanociencias y Nanotecnología: electroquímica, caracterización de baja dimensionalidad.