Suchergebnisse für ""Mani Dinesh""




Ähnliche Artikel


Microstructure, Stress and Defect Evolution
49,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Evariste Minani
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Under Illumination in Hydrogenated Amorphous Silicon (a-Si:H)
21. August 2018
LAP Lambert Academic Publishing

Development of MPC Design for NCS for Industries in Myanmar
23,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Hla Myo Tun
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
17. Oktober 2018
LAP Lambert Academic Publishing

Transistor-Level Defect-Tolerant Techniques for Reliable Design
53,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Farhan Khan
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
at the Nanoscale
Aufl.
2012
LAP Lambert Academic Publishing

Load Management and Energy Conservation In Industries
33,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Zain Raza
Rana Imran Majeed
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Al-Sajjad Flour Mill, Sector I-9, Islamabad, Pakistan
2012
LAP Lambert Academic Publishing

Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices
38,99 €
Versandfertig in 1-2 Wochen
Versandkostenfrei*
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
16. Oktober 1995
Cambridge University Press

Radiation Defect Engineering
124,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Abrosimova Vera
Vitali V Kozlovski
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
21. November 2005
World Scientific Publishing Company

Study and simulation of the characteristics of periodic structures
42,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Ouarda Barkat
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Propagation in one-dimensional multilayer media
28. Oktober 2021
Our Knowledge Publishing

Telecommunications and Electronic Media Industries in China
41,99 €
Versandfertig in 1-2 Wochen
Versandkostenfrei*
Miao Zhang
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
A Portrayal in Western News
Aufl.
14. Mai 2012
AV Akademikerverlag

Digital Noise Monitoring of Defect Origin
77,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Tel'man Aliev
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of hardcover 1st edition 2007
24. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-4410-8

Analytical and Numerical Studies of Defect Formation in SiC
68,00 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Roman Drachev
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
2009
VDM Verlag Dr. Müller



Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON