Suchergebnisse für ""Manoj Sachdev""

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
201,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
Process-Aware Sram Design and Test
2008 edition
21. Juni 2008
Springer / Springer Netherlands
11681229,978-1-4020-8362-4
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch117,99 €
eBook, PDF121,95 €
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (eBook, PDF)
65,95 €
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Manoj Sachdev
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
29. Juni 2013
Springer US
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
123,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2006 edition
4. Januar 2006
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-387-25762-4
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch74,99 €
eBook, PDF73,95 €
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
166,99 €
Versandfertig in 1-2 Wochen
Versandkostenfrei*
Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
2nd ed.
10. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-4285-2
Auch erhältlich als
Gebundenes Buch147,99 €
eBook, PDF161,95 €
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
147,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2nd ed.
21. Juni 2007
Springer / Springer US / Springer, Berlin
11378808,978-0-387-46546-3
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
161,95 €
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
4. Juni 2007
Springer US
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
117,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Process-Aware SRAM Design and Test
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008
28. Oktober 2010
Springer / Springer Netherlands
978-90-481-7855-1
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
74,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006
29. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-3832-9
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
125,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008
19. Oktober 2010
Springer / Springer Netherlands
978-90-481-7836-0
Auch erhältlich als
Gebundenes Buch125,99 €
eBook, PDF129,95 €
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
125,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2008 edition
6. Mai 2008
Springer / Springer Netherlands
11815303,978-1-4020-8300-6
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (eBook, PDF)
121,95 €
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
1. Juni 2008
Springer Netherlands
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (eBook, PDF)
73,95 €
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
1. Juni 2006
Springer US
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies (eBook, PDF)
129,95 €
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
26. April 2008
Springer Netherlands
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Manoj Sachdev
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Buch
Springer US


Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON