Suchergebnisse für ""Manoj Sachdev""

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Gebundenes Buch
Process-Aware Sram Design and Test
2008 edition
21. Juni 2008
Springer / Springer Netherlands
11681229,978-1-4020-8362-4
Auch erhältlich als
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eBook, PDF160,49 €
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
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Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
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Gebundenes Buch
2006 edition
4. Januar 2006
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-387-25762-4
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch74,99 €
eBook, PDF96,29 €
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
213,99 €
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
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eBook, PDF
4. Juni 2007
Springer US
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch154,99 €
Gebundenes Buch153,99 €
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (eBook, PDF)
160,49 €
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Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (eBook, PDF)
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1. Juni 2008
Springer Netherland
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (eBook, PDF)
96,29 €
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Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (eBook, PDF)
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1. Juni 2006
Springer US
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies (eBook, PDF)
171,19 €
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Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies (eBook, PDF)
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26. April 2008
Springer Netherland
Auch erhältlich als
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Broschiertes Buch
2nd ed.
10. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-4285-2
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
153,99 €
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Gebundenes Buch
2nd ed.
21. Juni 2007
Springer / Springer US / Springer, Berlin
11378808,978-0-387-46546-3
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Andrei Pavlov
Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Broschiertes Buch
Process-Aware SRAM Design and Test
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008
28. Oktober 2010
Springer / Springer Netherlands
978-90-481-7855-1
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
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Arman Vassighi
Manoj Sachdev
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
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Broschiertes Buch
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006
29. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-3832-9
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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Broschiertes Buch
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008
19. Oktober 2010
Springer / Springer Netherlands
978-90-481-7836-0
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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Oleg Semenov
Hossein Sarbishaei
Manoj Sachdev
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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2008 edition
6. Mai 2008
Springer / Springer Netherlands
11815303,978-1-4020-8300-6
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Manoj Sachdev
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
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Buch
Springer US


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