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H. J. Dudek
Maria F. Ebel
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
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Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1986
6. Dezember 2011
Springer, Berlin

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