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Se prepararon películas delgadas M-SiO2 por el método sol-gel para el estudio de su morfología. Las películas delgadas fueron depositadas en sustratos de vidrio mediante la técnica de Dip-coating. La inmersión de los sustratos se realizó a temperatura ambiente, controlando la viscosidad de este para un estudio de los resultados. Las películas fueron tratadas térmicamente en una mufla convencional y caracterizados en el Microscopio de Fuerza Atómica para el análisis de su superficie.