Broschiertes Buch
Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage
3. November 2015
Edizioni Accademiche Italiane
Broschiertes Buch
Repr. d. Ausg. v. 2013
5. Dezember 2013
Springer / Springer Milan / Springer, Berlin
86192452,978-88-470-5219-2
Ähnliche Artikel
eBook, PDF
17. Juli 2013
Springer / Springer International Publishing
eBook, PDF
9. Februar 2023
Springer International Publishing
Statt 64,19 €**
51,16 €
**Preis der gedruckten Ausgabe (Gebundenes Buch)
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
VersandkostenfreieBook, PDF
1. Juni 2015
Springer / Springer International Publishing
21,39 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
eBook, PDF
1. November 2019
Springer International Publishing
eBook, PDF
21. Dezember 2018
Springer International Publishing / Springer Spektrum
eBook, PDF
23. September 2021
Springer International Publishing
eBook, PDF
14. Mai 2019
Springer International Publishing
Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON