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L'environnement radiatif spatial est composé d'une grande diversité de particules dans un spectre en énergie très large. Parmi les effets affectant les composants électroniques, on distingue les effets cumulatifs et les effets singuliers transitoires analogiques (ASET). Les effets cumulatifs correspondent à une dégradation continue des paramètres électriques du composant. Les ASETs sont eux causés par le passage d'une particule unique dans le composant et engendrant une impulsion de tension. Au cours des tests au sol, les deux effets sont étudiés séparément, mais ils se produisent simultanément en vol. Il se produit donc un effet de synergie, induit par la combinaison de la dose et des ASET. Une étude de l'effet de synergie dose-ASET est proposée. Un modèle haut niveau est développé en utilisant l'analyse circuit permettant de prédire l'effet de synergie observé sur un aop à trois étages. Enfin, les effets transitoires induits par un environnement de très fort débit de dose de rayons X pulsés (TREEs) ainsi que l'effet de synergie dose-TREE sont étudiés. La méthode classique d'analyse des ASETs permet alors d'expliquer la forme des impulsions transitoires observées.