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25. April 2018
Taylor & Francis Ltd (Sales)
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Gebundenes Buch
The Next Generation of System-On-Chip Integration
2. Dezember 2014
CRC Press
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24. April 2018
Taylor & Francis
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24. April 2018
Taylor & Francis
Broschiertes Buch
Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
25. September 2012
LAP Lambert Academic Publishing
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