V ätoj knige opisywaetsq koncepciq proektirowaniq SRAM w tehnologiqh FinFET s ispol'zowaniem unikal'nyh wozmozhnostej neplanarnyh ustrojstw s dwojnym zatworom. Budet rassmotreno prostranstwo parametrow, neobhodimyh dlq proektirowaniq FinFET. Budut predstawleny razlichnye metody proektirowaniq SRAM, ispol'zuüschie preimuschestwa konfiguracij so swqzannymi zatworami i konfiguracij s nezawisimym uprawleniem zatworami. Proizwoditel'nost', moschnost' i stabil'nost' SRAM dlq FinFET-priborow srawniwaütsq s tradicionnymi planarnymi KMOP-analogami. Takzhe budet predstawleno modelirowanie izmenchiwosti FinFET s pomosch'ü statistiki. Srawnenie MOSFET ustrojstw s polikremniem i molibdenom w kachestwe materiala zatwora, a takzhe razrabotka FinFET ustrojstw s razlichnymi materialami zatwora, takimi kak zoloto, wol'fram, tantal i molibden, i srawnenie rezul'tatow s ustrojstwami s polikremniewym materialom zatwora.