Suchergebnisse für ""Selahattin Sayil""

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (eBook, PDF)
96,29 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Versandkostenfrei
Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
16. November 2017
Springer International Publishing
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch74,99 €
Gebundenes Buch74,99 €
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation (eBook, PDF)
53,49 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Versandkostenfrei
Selahattin Sayil
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
25. Februar 2016
Springer International Publishing
Auch erhältlich als
Broschiertes Buch37,99 €
Gebundenes Buch37,99 €
Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
39,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
1st ed. 2022
2. September 2023
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-031-12753-3
Auch erhältlich als
Gebundenes Buch37,99 €
Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
37,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
1st ed. 2022
1. September 2022
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-031-12750-2
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
74,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
4. September 2018
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-88819-4
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
37,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 2016
2018
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-80848-2
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
74,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
1st ed. 2018
4. Dezember 2017
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-69672-0
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
37,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Selahattin Sayil
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
1st ed. 2016
4. März 2016
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-30606-3


Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON