Suchergebnisse für ""Shaowei Chen""




Ähnliche Artikel


Nanotechnology in Catalysis, Volume 3
194,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Bing Zhou / Scott Han / Gabor A. Somorjai / Robert Raja (eds.)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2007 edition
14. Dezember 2006
Springer / Springer New York / Springer, Berlin
11735816,978-0-387-34687-8

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
194,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2002
31. Dezember 1999
Springer / Springer Netherlands / Springer US
978-0-306-46297-9

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
194,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Alvin W. Czanderna / Theodore E. Madey / Cedric J. Powell (eds.)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2002
31. Oktober 1998
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-306-45896-5

Perspectives of Fullerene Nanotechnology
194,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Eiji Osawa (Hrsg.)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2002 edition
31. Januar 2002
Springer Netherlands

Automation in the Laboratory
365,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
W. Jeffrey Hurst (Hrsg.)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
1. Auflage
17. Dezember 1996
Wiley & Sons

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
74,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2012
2. März 2012
Springer / Springer New York / Springer, Berlin
12702244,978-1-4614-2190-0

Computational Methods for Nanoscale Applications
111,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Igor Tsukerman
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
Particles, Plasmons and Waves
2. Aufl.
22. August 2020
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-030-43892-0

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
194,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Samuel H. Cohen / Marcia L. Lightbody (Hgg.)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
1997.
30. April 1997
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-306-45596-4

In-Situ Microscopy in Materials Research
196,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
Leading International Research in Electron and Scanning Probe Microscopies
1997.
30. September 1997
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9989-6

Photoemission from Optoelectronic Materials and Their Nanostructures
148,99 €
Versandfertig in 6-10 Tagen
Versandkostenfrei*
Kamakhya Prasad Ghatak
Sitangshu Bhattacharya
Debashis De
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
2009 edition
1. Juli 2009
Springer / Springer New York / Springer, Berlin
12222636,978-0-387-78605-6



Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON