![Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits](https://bilder.buecher.de/produkte/39/39500/39500944m.jpg)
Broschiertes Buch
1995
27. September 2012
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6205-0
Gebundenes Buch | 118,99 € |
![Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits](https://bilder.buecher.de/produkte/21/21550/21550898m.jpg)
Gebundenes Buch
1995
30. November 1994
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9505-8
![Physical Design for Multichip Modules Physical Design for Multichip Modules](https://bilder.buecher.de/produkte/39/39163/39163230m.jpg)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1994
8. Oktober 2012
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6153-4
Gebundenes Buch | 118,99 € |
![Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis](https://bilder.buecher.de/produkte/39/39162/39162180m.jpg)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1993
4. Oktober 2012
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6393-4
Gebundenes Buch | 118,99 € |
![Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits](https://bilder.buecher.de/produkte/39/39160/39160543n.jpg)
Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1993
27. September 2012
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6429-0
Gebundenes Buch | 158,99 € |
![Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis](https://bilder.buecher.de/produkte/22/22924/22924055m.jpg)
Gebundenes Buch
Repr. d. Ausg. v. 1992
31. Oktober 1992
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9281-1
![Physical Design for Multichip Modules Physical Design for Multichip Modules](https://bilder.buecher.de/produkte/20/20958/20958004m.jpg)
Gebundenes Buch
1994.
31. März 1994
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9450-1
![Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits](https://bilder.buecher.de/produkte/21/21800/21800453m.jpg)
Gebundenes Buch
1993.
30. Juni 1993
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9352-8
Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON