Suchergebnisse für ""Peter Vollertsen""

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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Alvin W. Strong
Ernest Y. Wu
Rolf-Peter Vollertsen
…mehr Autoren
Jordi Sune
Giuseppe La Rosa
Timothy D. Sullivan
Rauch
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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1. Auflage
1. September 2009
Wiley & Sons
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Jordi Sune
Giuseppe La Rosa
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Stewart E. Rauch
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