Suchergebnisse für ""Philippe Pougnet""

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
187,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
1. Auflage
6. April 2021
Wiley & Sons / Wiley-ISTE
1W786306870
Auch erhältlich als
eBook, ePUB139,99 €
eBook, PDF139,99 €
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
187,99 €
Versandfertig in über 4 Wochen
Versandkostenfrei*
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
Gebundenes Buch
Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
1. Auflage
16. März 2021
Wiley & Sons / Wiley-ISTE
1W786306400
Auch erhältlich als
eBook, ePUB139,99 €
eBook, PDF139,99 €
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (eBook, ePUB)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (eBook, ePUB)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, ePUB
14. April 2021
Wiley
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (eBook, PDF)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
5. März 2021
John Wiley & Sons
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (eBook, ePUB)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (eBook, ePUB)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, ePUB
14. Januar 2021
John Wiley & Sons
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (eBook, PDF)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
7. Januar 2021
John Wiley & Sons
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (eBook, PDF)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (eBook, PDF)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, PDF
16. August 2016
John Wiley & Sons
Auch erhältlich als
eBook, ePUB139,99 €
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (eBook, ePUB)
139,99 €
inkl. MwSt. und vom Verlag festgesetzt.
Sofort per Download lieferbar
Versandkostenfrei
Pierre-Richard Dahoo
Philippe Pougnet
Abdelkhalak El Hami
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (eBook, ePUB)
  (Aktuell noch keine Bewertungen)
eBook, ePUB
16. August 2016
Wiley-Scrivener


Ähnlichkeitssuche: Fact®Finder von OMIKRON