Rigoberto Jauregui Duran, J. Apolinar Reynoso, Francisco Hirata

Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas

Desarrollo de un método simple y preciso para caracterizar transistores y amplificadores de potencia en altas frecuencias

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Produktbeschreibung

La linealidad en amplitud y fase se ha convertido en un tema muy importante debido al incremento en los requerimientos de eficiencia espectral en los nuevos esquemas de comunicación y en sistemas que incluyen amplificadores no lineales. Para aplicaciones tales como radares coherentes, la estabilidad en fase es una característica muy importante. Por otra parte cuando un transmisor, el cual es un amplificador de potencia, es operado cerca de su máxima potencia disponible, se presenta distorsión en amplitud y en fase, las cuales dificultan el enlace. Sin embargo, este modo no lineal de operación en los transmisores es atractivo para sistemas satelitales, pues en estos sistemas la potencia disponible es un recurso muy preciado. Para caracterizar la linealidad en función de la potencia de estos amplificadores se han definido parámetros tales como la compresión de amplitud (AM-AM), o la desviación de fase (AM-PM). En este texto se analiza una alternativa para medir distorsión en amplitud y fase a partir de la teoría de interferencia de señales.

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Produktdetails

• Verlag: Editorial Académica Española
• Seitenzahl: 92
• Erscheinungstermin: 15. Juni 2011
• Spanisch
• Abmessung: 220mm x 150mm x 6mm
• Gewicht: 155g
• ISBN-13: 9783844339543
• ISBN-10: 384433954X
• Artikelnr.: 33622115

Autorenporträt

Es Ingeniero en Electrónica en el 2008 por el ITE, México. En el 2010 obtuvo el grado de Maestro en Ciencias en Electrónica y Telecomunicaciones en el CICESE, México. Desde el 2010 se encuentra trabajando con el grupo de RF de la UPV/EHU en España. Sus áreas de interés incluyen análisis y diseño de circuitos y sistemas en RF y microondas.