52,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 1-2 Wochen
payback
26 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Monografiq poswqschena woprosam razrabotki sistem tehnicheskogo zreniq (STZ) dlq kontrolq razmerow izdelij i diagnostiki rosta kristallow iz wysokotemperaturnogo rasplawa, baziruüschihsq na fur'e-optike, opticheskoj triangulqcii i cifrowoj obrabotke izobrazhenij. Rassmotreny metody differencial'nyh izmerenij razmerow izdelij w difrakcionnyh, korrelqcionnyh i proekcionnyh opticheskih izmeritel'nyh sistemah, osnowannye na prostranstwenno-chastotnoj fil'tracii i mul'tiplicirowanii izobrazhenij.Predlozheny metody mnogoluchewoj lazernoj triangulqcii dlq zondirowaniq nestacionarnoj zerkal'noj…mehr

Produktbeschreibung
Monografiq poswqschena woprosam razrabotki sistem tehnicheskogo zreniq (STZ) dlq kontrolq razmerow izdelij i diagnostiki rosta kristallow iz wysokotemperaturnogo rasplawa, baziruüschihsq na fur'e-optike, opticheskoj triangulqcii i cifrowoj obrabotke izobrazhenij. Rassmotreny metody differencial'nyh izmerenij razmerow izdelij w difrakcionnyh, korrelqcionnyh i proekcionnyh opticheskih izmeritel'nyh sistemah, osnowannye na prostranstwenno-chastotnoj fil'tracii i mul'tiplicirowanii izobrazhenij.Predlozheny metody mnogoluchewoj lazernoj triangulqcii dlq zondirowaniq nestacionarnoj zerkal'noj powerhnosti s izmenqüschejsq regulqrnoj sostawlqüschej kriwizny.Priwedeny rezul'taty issledowaniq izobrazheniq zony kristalloobrazowaniq w metode Chohral'skogo, formiruemogo opticheskoj sistemoj. Analiziruetsq parallax izobrazheniq i ego wliqnie na metrologicheskie harakteristiki wideosistemy kontrolq geometrii kristalla. Rassmotreny metody komplexnogo kontrolq urownq rasplawa i diametra kristalla, inwariantnye k wariaciqm skorosti wrascheniq rasplawa.Kniga mozhet byt' polezna specialistam w oblasti opticheskih izmerenij, razrabotchikam STZ i ustanowok dlq wyraschiwaniq kristallow, studentam opticheskih special'nostej.
Autorenporträt
Mihlqew Sergej Vasil'ewich, doktor tehnicheskih nauk (special'nost' "Optika"), weduschij nauchnyj sotrudnik i uchenyj sekretar' Instituta awtomatiki i älektrometrii Sibirskogo otdeleniq RAN, zakonchil Nowosibirskij gosuniwersitet. Oblast' nauchnyh interesow - informacionnaq optika, sistemy tehnicheskogo zreniq, opticheskaq i cifrowaq obrabotka izobrazhenij.