Pri jexperimental'noj otrabotke jelektronnoj komponentnoj bazy (JeKB) ispol'zujutsya metody forsirovannyh ispytanij. Sushhnost' dannyh metodov sostoit v sokrashhenii prodolzhitel'nosti i obema vyborki ispytanij putem uvelicheniya zhestkosti rezhima i ispol'zovaniya instrumentov matematicheskoj statistiki. V real'nyh usloviyah chasto ne udaetsya ustanovit' odnoznachnuju svyaz' mezhdu rezhimom i rezul'tatom ispytaniya i harakteristikoj nadezhnosti. V podobnoj situacii poleznym mozhet okazat'sya ispol'zovanie bajesovskogo podhoda, pozvolyajushhego v usloviyah neopredelennosti prinimat' resheniya, nailuchshie v smysle minimuma nekotoroj funkcii poter'. Rezul'tatom vypolnennoj raboty yavlyaetsya metod raschetno-jexperimental'noj ocenki pokazatelej nadezhnosti pri ispytaniyah malyh vyborok v forsirovannyh rezhimah. Razrabotannyj metod vnedren v ispytatel'nom centre AO RNII Jelektronstandart.