Rassmotreny metody izucheniya ob#ema i poverhnosti materialov fotoniki. Naznachenie knigi - oznakomlenie nachinajushhego issledovatelya s osnovnymi principami raboty sovremennyh fizicheskih metodov. Kniga sostoit iz chetyreh osnovnyh razdelov. V pervoj chasti rassmotreny metody issledovaniya himicheskogo sostava, vkljuchajushhie spektral'nye, rentgenovskie i mass-spektrometricheskie metody analiza. Vo vtoroj chasti rassmotreny spektral'nye metody issledovaniya molekulyarnoj struktury veshhestva. V tret'ej chasti v szhatoj forme izlozheny osnovnye sposoby issledovaniya poverhnosti opticheskih materialov, vkljuchaya metody atomnoj, opticheskoj i blizhnepol'noj mikroskopii. V jetoj chasti takzhe privedeny primery razrabotok mikroskopov na ob#edinennoj platforme, chto pozvolyaet izuchat' ob#ekt odnovremenno dvumya metodami. Chetvertaya chast' posvyashhena metodam izmereniya opticheskih parametrov materialov i tonkih plenok. Rassmotreny raznye metody analiza opticheskih harakteristik materialov, vkljuchaya metody vneshnego otrazheniya, NPVO, a takzhe raznye metody svetorasseyaniya i metody volnovodnoj spektroskopii.