Produktbild: Extraction of Semiconductor Diode Parameters
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Extraction of Semiconductor Diode Parameters A Comparative Review of Methods and Materials

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

04.06.2024

Abbildungen

XIX, 174 p. 86 illus., 62 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

174

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,6 cm

Gewicht

501 g

Auflage

2024

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-48846-7

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Erscheinungsdatum

04.06.2024

Abbildungen

XIX, 174 p. 86 illus., 62 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

174

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,6 cm

Gewicht

501 g

Auflage

2024

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-48846-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Determining p-n Junction Band Gap.- Review of Metal-Semiconductor Junctions.- Contemporary Parameter Extraction Methods.- Transient Methods.- New Parameter Extraction Techniques.- p-n Diode Parameter Extraction.- Novel Unified Method.- Artifical Intelligence Parameter Extraction Methods.