Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique - Solanki, Vanarajsinh;Dasadiya, Dr. Abhay;Mishra, Pramita
26,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
13 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.…mehr

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.
Autorenporträt
Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.