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Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.11.2011

Abbildungen

XVI, 252 p.

Herausgeber

Manfred Dietrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

252

Maße (L/B/H)

24,1/16/2 cm

Gewicht

571 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6620-9

Beschreibung

Portrait

Dr. Manfred Dietrich leitet die Abteilung Mikroelektronische Systeme am Fraunhofer Institut, Institutsteil Entwurfsautomatisierung, in Dresden. Seit Jahren ist diese Abteilung in verschiedenen Industrie- und Förderprojekten auf dem Gebiet des 3D-Entwurfs integriert; sie arbeitet also aktiv an vorderster Stelle auf diesem neuen Arbeitsfeld mit.

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Erscheinungsdatum

19.11.2011

Abbildungen

XVI, 252 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

252

Maße (L/B/H)

24,1/16/2 cm

Gewicht

571 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6620-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Introduction.- Physical and Mathematical Fundamentals.- Examination of Process Parameter Variations.- Methods of Parameter Variations.- Consequences for Circuits Design and Case Studies.- Conclusion.