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Produktbild: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2014

Abbildungen

XVIII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

359 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8952-9

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2014

Abbildungen

XVIII, 212 p.

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Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

359 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8952-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

  • Introduction to VLSI Testing.- Delay Test and System-Delay Defects.- Long Path-Based Hybrid Method.- Process Variations- and Crosstalk-Aware Pattern Selection.- Power Supply Noise- and Crosstalk-Aware Hybrid Method.- SDD-Based Hybrid Method.- Maximizing Crosstalk Effect on Critical Paths.- Maximizing Power Supply Noise on Critical Paths.- Faster-than-at-speed Test.- Introduction to Diagnosis.- Diagnosing Noise-Induced SDDs by Using Dynamic SDF.