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Produktbild: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
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Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

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131,99 € UVP 149,79 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

10.10.2018

Abbildungen

XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color.

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

156

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,5 cm

Gewicht

424 g

Auflage

1st edition 2019

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-13-2492-5

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

10.10.2018

Abbildungen

XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color.

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

156

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,5 cm

Gewicht

424 g

Auflage

1st edition 2019

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-13-2492-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

  • Chapter 1. Background and Review of Crosstalk Delay Fault Models and the Crosstalk Effects.- Chapter 2. Review of Test Generation Techniques for Crosstalk Delay Faults.- Chapter 3. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Modified PODEM and FAN Algorithm.- Chapter 4. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults using Single-Objective Genetic Algorithm.- Chapter 5. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Single-Objective Particle Swarm Optimization.- Chapter 6. Simulation of Asynchronous Sequential Circuits using Fuzzy Delay Model.- Chapter 7. Simulation Based Test Generation for Crosstalk Delay Faults in Asynchronous Sequential Circuits.