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Il test ADC è un'attività importante che gioca un ruolo principale nel decidere l'accuratezza di un sistema. Molte applicazioni osservano la misura usando l'ADC. Tale applicazione comporta un'elevata precisione e risoluzione, quindi è fornita dal campo dinamico del segnale. I valori dei parametri ADC possono essere migliorati in futuro aumentando il numero di campioni, la frequenza e l'overdrive. L'algoritmo di prova può essere applicato all'analisi sperimentale ADC in tempo reale. Algoritmo di densità del codice modificato che riduce l'effetto degli errori sui dati dell'istogramma. Questo…mehr

Produktbeschreibung
Il test ADC è un'attività importante che gioca un ruolo principale nel decidere l'accuratezza di un sistema. Molte applicazioni osservano la misura usando l'ADC. Tale applicazione comporta un'elevata precisione e risoluzione, quindi è fornita dal campo dinamico del segnale. I valori dei parametri ADC possono essere migliorati in futuro aumentando il numero di campioni, la frequenza e l'overdrive. L'algoritmo di prova può essere applicato all'analisi sperimentale ADC in tempo reale. Algoritmo di densità del codice modificato che riduce l'effetto degli errori sui dati dell'istogramma. Questo algoritmo può raggiungere lo stesso livello di precisione dell'algoritmo di densità del codice convenzionale, ma utilizzando un numero di campioni significativamente inferiore, il che significa tempi di prova più brevi e costi di prova inferiori. Il nuovo metodo è molto efficiente e può essere utilizzato per consentire la prova di ADC ad alta risoluzione con una migliore copertura e ridurre il tempo ed il costo della prova di ADC a media risoluzione. Questo libro è stato tradotto con Intelligenza Artificiale.
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Autorenporträt
Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)