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Produktbild: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Band 29

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing

149,79 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

Family Sharing

Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

30.03.2006

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

388 (Printausgabe)

Dateigröße

5827 KB

Sprache

Englisch

EAN

9780387256245

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

eBooks im PDF-Format haben eine festgelegte Seitengröße und eignen sich daher nur bedingt zum Lesen auf einem tolino eReader oder Smartphone. Für den vollen Lesegenuss empfehlen wir Ihnen bei PDF-eBooks die Verwendung eines Tablets oder Computers.

Kopierschutz

Nein

Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie, allen sonstigen eReadern und am PC lesen. Das eBook ist nicht kopiergeschützt und kann ein personalisiertes Wasserzeichen enthalten. Weitere Hinweise zum Lesen von eBooks mit einem personalisierten Wasserzeichen finden Sie unter Hilfe/Downloads.

Family Sharing

Nein

Mit Family Sharing können Sie eBooks innerhalb Ihrer Familie (max. sechs Mitglieder im gleichen Haushalt) teilen. Sie entscheiden selbst, welches Buch Sie mit welchem Familienmitglied teilen möchten. Auch das parallele Lesen durch verschiedene Familienmitglieder ist durch Family Sharing möglich. Um eBooks zu teilen oder geteilt zu bekommen, muss jedes Familienmitglied ein Konto bei Thalia oder einem anderen tolino-Buchhändler haben. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Family-Sharing.

Text-to-Speech

Nein

Bedeutet Ihnen Stimme mehr als Text? Mit der Funktion Text-to-Speech können Sie sich im tolino webReader und in der aktuellen Thalia – Lesen & Hören App das eBook vorlesen lassen. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Text-to-Speech.

Barrierefreiheit
  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

Erscheinungsdatum

30.03.2006

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

388 (Printausgabe)

Dateigröße

5827 KB

Sprache

Englisch

EAN

9780387256245

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  • Part I. Testing Concepts. Introduction. Design Flow. Design for Test. Boundary Scan.- Part II. SoC Design for Testability. System Modeling. Test Conflicts. Test Power Dissipation. Test Access Mechanism. Test Scheduling.- Part III. SoC Test Applications. A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling. An Integrated Framework for the Design and Optimization of SoC Test Solutions. Efficient Test Solutions for Core-Based Designs. Integrating Core Selection in the System-On-Chip Test Solution Design-Flow. Defect-Aware Test Scheduling. An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling Under Ate Memory Depth Constraint.- Appendix 1. Benchmarks.- References.- Index.